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更新時間：2023-08-22 
瀏覽次數(shù)：289只需將樣品插入探頭之間即可測量的簡單測量儀器
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
通過 JOG 旋鈕進行簡單的測量條件設置
*由于探頭為固定式，購買前請從多種探頭中選擇一種。
半導體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬、ITO等）
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
其他（*請聯(lián)系我們）
約 8 英寸或約 156 x 156 毫米
[電阻率] 1m 至 200Ω cm
（*所有探頭類型的總范圍/厚度為 500um 時）
[表面電阻] 10m 至 3kΩ/sq
（*所有探頭類型的總范圍）
*有關每種探頭類型的測量范圍，請參閱以下內(nèi)容。
(1) 低：0.01～0.5Ω/□(0.001～0.05Ω·cm)
(2)中：0.5～10Ω/□(0.05～0.5Ω·cm)
(3)高：10～1,000Ω/□(0.5 ) ~60Ω·cm)
(4) S-高：1,000 至 3,000Ω/□ (60 至 200Ω·cm)
W220×D325×H210mm
約6.5kg
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